2022年底,历经4个多月的严格现场测试和试用考核,半岛·综合体育ZEUS-W300型半自动晶圆测量机顺利通过厦门通富微电子有限公司最终验收,设备完全满足通富微电先进封测线磨划制程对于晶圆关键参数的测量需求。
本次顺利通过通富微电的高规格验收,标志着半岛·综合体育晶圆测量机已经具备国际领先水平的晶圆测量与校准能力,可以为客户的研发与生产提供高品质、高可靠性的质量保障。
与此同时,半岛·综合体育公司与长电微电子(江阴)有限公司签订半自动晶圆测量机供货订单。再次获得封测巨头青睐,标志着半岛·综合体育晶圆测量机提供的标准化检测、校准服务已获得封测行业的一致认可,并为未来的发展与推广奠定坚实基础。
ZEUS系列晶圆测量机由半岛·综合体育测量装备事业部自主研发,面向IC行业高精度光学三维形貌测量,已形成ZEUS-W300半自动、ZEUS-W300A全自动两款产品,服务于化合物半导体、硅基器件前/后段、LED、光通讯等领域。
#ZEUS-W300半自动晶圆测量机
#ZEUS-W300A全自动晶圆测量机
产品功能说明 | ||
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ZEUS-W300 | ZEUS-W300A | |
主要功能: 用于晶圆厚度、TTV、Bow、Warp、RST、wafer上薄膜厚度、3D形貌、BUMP、关键尺寸、粗糙度等参数测量。 |
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主要性能参数: 测量行程:400mm(X)×400mm(Y)×30mm(Z); 可测圆片尺寸:50mm(2寸)至300mm(12寸); 可测圆片翘曲:翘曲15mm以内; 厚度测量范围:50μm至24mm; 厚度测量精度:±0.5μm; 最大样本倾斜率:25°; 可在一台设备上搭配不同技术的测量探头; 采用空气悬浮台,实现无振动测量。 |
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特点 |
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可搭载4个8/12寸片Load Port,或同时搭载两个wafer robot实现60pcs/h的吞吐量,实现自动上下料。 |
自研测量软件
(3)强大的白光干涉技术
应用白光干涉技术,获取wafer表面的3D形貌、表面粗糙度、TSV等关键尺寸的相关数据,可对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。以下图片展示了该项技术在几种不同材料上对不同参数进行测量的应用案例。
应用案例:半导体、抛光硅片、减薄硅片、晶圆IC