10月27日,第十届中国半导体设备年会(CSEAC)在无锡太湖国际博览中心隆重开幕,我司测量装备事业部自主研发的ZEUS系列晶圆测装备成功亮相,获得行业用户广泛关注。
ZEUS系列非接触式晶圆检测装备包括半自动晶圆综合测量机、全自动晶圆综合测量机和3D光学形貌仪,主要用于晶圆的厚度、TTV、Bow、Warp、RST、3D形貌、TSV、关键尺寸、粗糙度等参数的高精度测量,目前已被中芯长电、士兰微等多家国内半导体行业头部企业选购应用,用户反馈良好。
ZEUS系列3D光学形貌仪、半自动和全自动晶圆测量机(从左至右)
在10月29日的“制造工艺与半导体设备产业链联动发展论坛”中,我司测量装备事业部总经理张旭以“探索核‘芯’技术,打造国产化非接触检测装备”为主题,讲述了晶圆检测技术的自主研发历程,介绍了半岛·综合体育晶圆检测装备的技术特点和产品优势,获得与会专家的高度评价与认同。
注:中国半导体设备年会是我国半导体设备行业唯一权威研讨会,由中国电子专用设备工业协会组办,每年举行一届,既是行业风向标,又是全产业生态链深入交流与合作的平台。